安卓平臺：

iOS平臺：

您可以在產(chǎn)品后臺中靈活進(jìn)行開關(guān)和采樣率的配置，此處的配置下發(fā)到SDK后優(yōu)先級會高于在SDK集成時選擇的默認(rèn)配置

• 特殊功能開關(guān)：部分高級功能需要打開開關(guān)才進(jìn)行采集，開啟開關(guān)后可以配置采樣率

• 采樣率配置：默認(rèn)為100%，最高100%，在設(shè)備啟動時判斷此次PV是否采樣，您可以根據(jù)自身情況調(diào)低采樣率

注：安卓平臺中OOM異常涵蓋在崩潰分析中，如果您在SDK中將崩潰分析的開關(guān)關(guān)閉，則OOM異常也不會采集。iOS平臺中需要設(shè)置OOM異常的采樣率

• SDK配置：

  • 支持設(shè)置單設(shè)備每天上報自定義異常條數(shù)的上限，默認(rèn)20個，最高支持120個

  • 自定義異常的上報策略默認(rèn)為跟隨崩潰發(fā)送，您也可以在此處修改為實(shí)時上報，請注意，iOS開啟后請不要在1分鐘內(nèi)多次調(diào)用自定義異常，頻繁調(diào)用且實(shí)時上報可能對性能造成影響，甚至導(dǎo)致OOM

• 其他配置：

  • 已忽略的錯誤是否計入統(tǒng)計，默認(rèn)開啟計入統(tǒng)計，如果關(guān)閉后，則在崩潰分析、ANR分析、自定義異常、卡頓分析、OOM異常、啟動崩潰分析中標(biāo)記為已忽略的錯誤就不會計入模塊趨勢指標(biāo)統(tǒng)計和圖表中

  • 已忽略的錯誤是否在錯誤列表展示，默認(rèn)開啟計入統(tǒng)計，如果關(guān)閉后，則在崩潰分析、ANR分析、自定義異常、卡頓分析、OOM異常、啟動崩潰分析中標(biāo)記為已忽略的錯誤就不會在錯誤列表中展示